ہائی وولٹیج پر سرکٹ بریکر کپیسیٹر کے ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کیسے کریں۔
ہائی وولٹیج پر سرکٹ بریکر کپیسیٹر کے ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کیسے کریں۔
تعارف
کپیسیٹینس اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کے عمل کے دوران، ٹیسٹ آبجیکٹ اور آس پاس کے لائیو پرزوں کے درمیان کپلنگ کیپیسیٹینس کی وجہ سے، پیمائش الیکٹرک فیلڈ سے پریشان ہوتی ہے تاکہ حقیقی گنجائش اور ڈائی الیکٹرک نقصان حاصل نہ کیا جا سکے۔ اس کے علاوہ، متعلقہ ٹیسٹ کے معیار کے مطابق، ٹیسٹ میں 10kV ٹیسٹ وولٹیج استعمال کرنا چاہیے۔ تاہم، وولٹیج کی سطح میں بہتری کے ساتھ، 10kV پر ڈائی الیکٹرک نقصان کا ڈیٹا ہمیشہ آپریشن کے دوران آلات کے حالات کی عکاسی کرنے میں ناکام رہتا ہے۔ مذکورہ بالا مسئلے کو حل کرنے کے لیے، کاغذ تجویز کرتا ہے کہ مختلف فریکوئنسی پاور سورس استعمال کرنے اور ٹیسٹ وولٹیج کو بڑھانے کے طریقے استعمال کیے جائیں تاکہ اہلیت اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کی جاسکے۔
1. پیمائش کے طریقہ کار میں بہتری کا تجزیہ
آن سائٹ سرکٹ بریکر کیپیسیٹر ٹیسٹ میں دو مسائل ہیں: ① ارد گرد کے زندہ اجزاء ٹیسٹ آبجیکٹ کے لیے الیکٹرک فیلڈ میں مداخلت پیدا کرتے ہیں اس لیے حقیقی گنجائش اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش نہیں کی جاتی ہے۔ ② ڈائی الیکٹرک نقصان 10kV پر اتنا بڑا ہے کہ کیپسیٹر چلانے کے دوران موصلیت کی حالت درست طریقے سے منعکس نہیں ہوسکتی ہے۔
اس طرح، یہ مقالہ دو پہلوؤں سے سرکٹ بریکر کیپیسیٹینس اور ڈائی الیکٹرک نقصان ٹیسٹ کو بہتر بنانے کے طریقوں کا مطالعہ کرنا ہے: ① الیکٹرک فیلڈ کی مداخلت کو ختم کرنے کے طریقے۔ آبجیکٹ کو جانچنے کے لیے وولٹیج لگانے اور سگنلز سے مداخلت کرنے والے جز کو ختم کرنے کے لیے پاور فریکوئنسی سے مختلف پاور سورس استعمال کریں۔ ② اس بات کا مطالعہ کرنے کے لیے کہ کیپسیٹر کا ڈائی الیکٹرک نقصان ٹیسٹ وولٹیج کے مطابق کس طرح مختلف ہوتا ہے اور پیمائش کرنے کے لیے ٹیسٹ پاور وولٹیج کو بڑھاتا ہے۔
2. ٹیسٹ سکیم کا مختصر ;
اس مقالے میں تجویز کیا گیا ہے کہ مختلف فریکوئنسی پاور سورس استعمال کرنے اور ٹیسٹ وولٹیج کو بڑھانے کے طریقوں کا استعمال اہلیت اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کے لیے کیا جائے۔ اس سے پہلے، صرف لیب میں ڈائی الیکٹرک نقصان کو ہائی وولٹیج پر ماپا جا سکتا تھا۔ جیسے جیسے ٹیسٹ کے آلات کا سائز کم ہوتا ہے، ایچ وی ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش لیب سے سائٹ تک پھیل جاتی ہے۔
3. سائٹ پر ٹیسٹ کے نتائج اور تجزیہ ;
مندرجہ بالا ٹیسٹ سکیم کو بہت سے سب سٹیشنوں میں لاگو کیا گیا تھا۔ ٹیسٹ کے نتائج نظریاتی تجزیہ کے مطابق تھے۔ ٹیسٹ کے عمل اور نتائج کے تجزیے کو متعارف کرانے کے لیے مثال کے طور پر لیو ڈونگ سب اسٹیشن پر کچھ 500kV سرکٹ بریکر کپیسیٹر لیں۔ ٹیسٹ ٹرانسفارمر کا بوسٹنگ موڈ ٹیسٹ میں استعمال ہوتا ہے۔ ٹیسٹ پاور سورس 10kV سے 80kV تک بڑھ جاتا ہے۔ ہر 10kV میں ایک بار کی پیمائش کریں اور پھر 10kV تک گر جائے؛ پھر ایک بار ہر 10kV کی پیمائش کریں۔ جہاں تک ہر ماپنے والے وولٹیج کا تعلق ہے، 49Hz اور 51Hz پر اہلیت اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کریں۔ اس کی اوسط قدر کو پیمائشی قدر کے طور پر لیا جاتا ہے۔
4. نتائج
1) نظریاتی تجزیہ کے ذریعے، یہ مقالہ ٹیسٹ کے نئے طریقے تجویز کرتا ہے: مختلف فریکوئنسی پاور سورس اور ڈیجیٹل فلٹر استعمال کریں تاکہ اعتراض کو جانچنے اور ٹیسٹ وولٹیج کو بڑھانے کے لیے سائٹ کے لائیو پرزوں سے مداخلت کو ختم کیا جا سکے۔ 2) دو ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کی اسکیمیں متعارف کرائی گئی ہیں: ٹیسٹ ٹرانسفارمر اور سیریز گونج۔ ان کے قابل اطلاق رینجز کا موازنہ کیا جاتا ہے: جب ٹیسٹ آبجیکٹ ≤5000pF کی گنجائش، ٹیسٹ ٹرانسفارمر یا متوازی ری ایکٹر کی سفارش کی جاتی ہے۔ جب اہلیت ＞5000pF، سیریز گونج کا طریقہ استعمال کیا جانا چاہئے. 3) اوپر کی بہتری کے طریقوں اور ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کے لیے ٹیسٹ اسکیموں کی بنیاد پر، سب اسٹیشن پر سائٹ پر ٹیسٹ کیے جاتے ہیں۔ ٹیسٹ کے نتائج سے پتہ چلتا ہے کہ ٹیسٹ کے نئے طریقے نہ صرف برقی میدان کی مداخلت کو مؤثر طریقے سے بچا سکتے ہیں،
